Olet syöttänyt alla oleviin korostettuihin kenttiin virheellisiä merkkejä sisältävän arvon. Tarkista syöttämäsi arvot ja käytä vain sallittuja merkkejä.

Tuote ei välttämättä vastaa täysin tarkasti hakuasi

Olet aiemmin ostanut tämän tuotteen. Katso tilaushistoriasta

 
 

100D

Test Accessory, Connector, 50 ohm, Beehive EMC Probe Amplifiers, 100 Series

100D - Test Accessory, Connector, 50 ohm, Beehive EMC Probe Amplifiers, 100 Series

Kuva on vain kuvaavaa tarkoitusta varten. Lue tuotekuvaus tarkempia tietoja varten.

Valmistajan osanumero:
100D
Tilauskoodi:
2806226
Tuotevalikoima
100 Series
Tekninen tuotetietolomake:
100D   Datasheet
Näytä kaikki tekniset asiakirjat

Tuotevalikoiman valitsin (100 Series)

Katso kaikki tästä tuotevalikoiman katalogista

Tuotetiedot

Haluatko nähdä samanlaisia tuotteita? Valitse vain haluamasi määritteet alla ja paina painiketta ×


:
Connector

:
-

:
50ohm

:
-

:
Beehive EMC Probe Amplifiers

:
100 Series

Löydä vastaavia tuotteita Voit etsiä vastaavia tuotteita valitsemalla ja muokkaamalla yllä olevia valintoja.

Tekniset asiakirjat (2)

Tuotteen yleiskatsaus

The 100D from Beehive Electronics is a 100 series EMC probe EMC probe. It is an electric field probe, unlike the 100A/B/C. This probe has best spatial resolution of all the probes. However, because it is an electric field probe, it does not offer the common mode rejection that the magnetic field probes have. It is designed for identifying and fixing EMC problems. The 100D stub probe with its narrow tip offers the highest spatial resolution. It is ideally suited to tasks such as tracking EMC sources down to the individual pins of an IC. Because of the planar construction of the probes, even the large loops are only 0.11" thick, allowing the probe to be inserted into narrow seams and gaps.
  • Integrated electrostatic shield in the loop probe eliminates common mode pick-up
  • Multiple loop sizes offer optimum sensitivity and spatial resolution at different frequencies
  • Probe dimensions optimized for access to tight spaces
  • Stub, 0.08inch tip diameter
  • Stub probe and sensitive to electric fields
  • Can be driven by a signal source to generate fields for electromagnetic susceptibility testing
  • Probe can be used to measure the signals present on an operational PC board
  • Length is 6.35inch (excluding connector) and probe tip thickness is 0.11"

3 Varastossa

1 varastossa seuraavan päivän toimitukseen (Liege stock)
2 varastossa seuraavan päivän toimitukseen (UK stock)
 
Tarkista varastotilanne ja toimitusajat

Lisää tuotteita varastossa päivämäärästä 25.1.2021 alkavalla viikolla

86,59 €

Hinnoittelu ei ole käytössä. Ole hyvä ja ota yhteys asiakaspalveluun.

Hinta tuotteelle:
kappale
Useita: 1 Vähintään: 1
Määrä Hinta Hintasi
 
 
1+ 86,59 €
Kampanjahinta
Sopimushinta
Hinta vain verkossa
Sopimushinta vain verkossa
 
 
 

Hinnoittelu ei ole käytössä. Ole hyvä ja ota yhteys asiakaspalveluun.

No longer stocked:: No Longer Manufactured::
Lisää ostoskoriin Jälkitoimitus Ennakkotilaus
Lisää
Rajoitettu tuote
Lisää osanumero / rivihuomautus
Kokonaishinta:
Kokonaishinta: ( )
Kokonaishinta: --

Asiakasarviot

Asiakkaiden kyselyosio